Các nhà khoa học Mỹ tuyên bố công nghệ chụp cắt lớp não có thể giúp phát hiện sớm những thay đổi về mặt chức năng ở trẻ có nguy cơ cao bị chứng tự kỷ ngay từ khi trẻ khoảng 6 tháng tuổi, từ đó giúp dự đoán khả năng mắc trước 2 tuổi.

Các nhà khoa học đã sử dụng công nghệ chụp cộng hưởng từ để kiểm tra khả năng kết nối chức năng não bộ của 59 trẻ 6 tháng tuổi khi các bé đang ngủ. Những em bé này đều có anh hoặc chị được chẩn đoán mắc chứng tự kỷ.

Kết quả cho thấy hệ thống giúp dự đoán được 9/11 trẻ thực sự mắc chứng tự kỷ khi các em 2 tuổi. Các nhà nghiên cứu tin rằng việc phân tích các hình ảnh chụp cắt lớp não bộ có thể giúp dự đoán chính xác chứng tự kỷ ở nhóm trẻ có nguy cơ cao, tuy nhiên cũng cần tiến hành thêm các nghiên cứu trên diện rộng để có kết luận chính xác.

Trong bối cảnh chứng tự kỷ ở trẻ em đang dần trở nên đáng lo ngại với số lượng các ca được chẩn đoán mắc ngày càng tăng thì nghiên cứu này có thể coi là một trong những bước đi mới trong nghiên cứu và điều trị tự kỷ.

Mời quý độc giả theo dõi các chương trình đã phát sóng của Đài Truyền hình Việt Nam trên TV Online